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紅外熱成像系統(tǒng)在線(xiàn)測(cè)溫產(chǎn)品

FLIR紅外熱像儀助力紅外無(wú)損檢測(cè)技術(shù)

文章出處:責(zé)任編輯:作者:人氣:-發(fā)表時(shí)間:2020-06-04 15:35:00
  作為近年來(lái)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)迅速發(fā)展的紅外無(wú)損檢測(cè)技術(shù),越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于生產(chǎn)制造的各個(gè)領(lǐng)域。紅外無(wú)損檢測(cè)技術(shù),即使用紅外熱像儀,通過(guò)不影響被測(cè)物性能且不影響和破壞被測(cè)物的情況下實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物不可見(jiàn)層面的損傷和缺陷的檢測(cè),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物質(zhì)量的控制。

  紅外無(wú)損檢測(cè)技術(shù)分為主動(dòng)紅外無(wú)損檢測(cè)和被動(dòng)紅外無(wú)損檢測(cè)。日常常見(jiàn)的被動(dòng)型紅外無(wú)損檢測(cè),即直接使用FLIR熱像儀對(duì)被測(cè)物進(jìn)行拍攝,通過(guò)被測(cè)物表面的溫差來(lái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)物內(nèi)部可能存在的缺陷。

  比如冶煉爐窯的耐火磚檢測(cè)。因?yàn)橐睙挏囟雀h(huán)境溫度相差很大,因此溫度會(huì)傳導(dǎo)至爐壁。如果內(nèi)部耐火磚發(fā)生了損耗,則溫度傳到的路徑或者路程將發(fā)生改變,從而導(dǎo)致冶煉爐避免的溫度出現(xiàn)不同。

耐火內(nèi)襯發(fā)生缺損

  被動(dòng)式無(wú)損檢測(cè)的缺點(diǎn)是如果被測(cè)物本身沒(méi)有熱特征,將無(wú)法呈現(xiàn)其缺陷。因此最近主動(dòng)式無(wú)損檢測(cè)發(fā)展迅速且技術(shù)越來(lái)越成熟。主動(dòng)式無(wú)損檢測(cè)是通過(guò)合理的外部熱源(偶爾也可以用降溫的技術(shù),目的是產(chǎn)生溫差),給被測(cè)物產(chǎn)生一個(gè)主動(dòng)式溫差。小型器材的耐火內(nèi)襯為例,可以通過(guò)外加合理的熱源,將被測(cè)物的表面獲得一個(gè)設(shè)定的加熱功率或者溫度,當(dāng)表面收到加熱的時(shí)候,熱量向被測(cè)物內(nèi)部散熱。

  如果被測(cè)物在一定深度的表層狀態(tài)完全一致,熱量在不同的位置和路徑的散熱狀態(tài)應(yīng)該是一致的,如果在熱源的同一側(cè)拍攝,則在某個(gè)固定時(shí)刻可以獲悉被測(cè)物經(jīng)過(guò)熱量散失后剩余的表面溫度狀態(tài),從而通過(guò)表面“散熱”狀態(tài)的不同獲取被測(cè)物內(nèi)部的損傷狀態(tài)。

 

某被測(cè)樣品內(nèi)表黏貼層發(fā)生熱脫粘

  為了獲得合適的圖像,以及發(fā)現(xiàn)被測(cè)物因?yàn)閮?nèi)部缺陷存在的缺陷狀態(tài)。加熱溫度、加熱功率、加熱方式、紅外熱像儀捕捉方式、圖像或者溫度算法都是被計(jì)算過(guò)的,通過(guò)圖像式的方法最終將缺陷明晰地呈現(xiàn)在熱像儀采集到的可視化圖像上。

  目前FLIR熱像儀在涂層材料、金屬材料的無(wú)損檢測(cè)上廣泛應(yīng)用,對(duì)黏貼、焊接、蜂窩脫粘,表層隱裂等可以有效檢出,從而讓FLIR熱像儀幫助您有效檢測(cè)出不可見(jiàn)的缺陷,保證您產(chǎn)品的質(zhì)量控制和風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估工作。

  更多技術(shù)咨詢(xún),請(qǐng)致電400-920-2866!

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